智造檢測影像辨識技術-技術移轉-產業服務-工業技術研究院
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技術名稱:
智造檢測影像辨識技術
技術簡介透過機器學習理論,蒐集大量已標註之檢測影像,以監督式學習的類神經網路模組,教導機器學習檢測與辨識的判斷標準,進而大幅提高自動化檢測與辨識之準確率。
AOI線寬比對與量測技術可將樣板影像與實際電路板因製程造成漲縮歪斜等現象之影像準確地對位,量測軟體會依據在樣板影像上定義量測項目於對應區域量測線寬。
可量測60um